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      Sonde de Test logique LP-1 pour réparation de carte mère
      Sonde de Test logique LP-1 pour réparation de carte mère

      Sonde de Test logique LP-1 pour réparation de carte mère

      65,000 TND
      TTC

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      Pour TTL/CMOS/DTL

      4 états détectables : HI/LO/Pulse/Hi-Impedance

      Fréquence d'entrée maximale : 20 MHz

      Fonction de mémoire d'impulsions

      Opération d'une seule main

      Protection contre l'inversion de polarité de puissance

      Alimentation : 3-18VCC

      1000-00980

      Références spécifiques

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